Standard No.:	GB/T 28634-2012
English Name:	Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
Chinese Name:	微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析
Chinese Classification:	N53    Electrochemical, thermochemistry and optical profile type analyzer
Professional Classification:	GB    National Standard
ICS Classification:	71.040.99 71.040.99    Other standards related to analytical chemistry 71.040.99
Source Content Issued by:	AQSIQ;SAC
Issued on:	2012-7-31
Implemented on:	2013-2-1
Status:	superseded
Superseded by:	GB/T 28634-2025 Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
Superseded on:	2025-11-1
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	7000 words
Translation Price(USD):	210.0
Delivery:	via email in 1~3 business day

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
内容包括:
———定量分析原理;
———本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;
———仪器的一般要求;
———有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。
本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。