Standard No.:	GB/T 17866-1999
English Name:	Guideline for programmed defect masks and benchmark procedures for sensitivity analysis of mask defect inspection systems
Chinese Name:	掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
Chinese Classification:	L56    Semiconductor integrated circuit
Professional Classification:	GB    National Standard
Source Content Issued by:	CBTS
Issued on:	1999-9-1
Implemented on:	2000-6-1
Status:	valid
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	5500 words
Translation Price(USD):	160.0
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本标准的目的是制定一套可用于评估掩模缺陷检查系统灵敏度的测试掩模。这套测试掩模包括：含特制图形缺陷的测试芯片，以及不含特制图形缺陷的参考测试芯片。由于测试芯片是由各种单集合而成，所以在本标准中，测试芯片是用单图形、单图形中的特制缺陷、以及单的布局来定义的。此外，测试掩模是通过规定测试芯片的排列来定义的。本标准还讲述这套掩模的用法。