Standard No.:	GB/T 18907-2013
English Name:	Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
Chinese Name:	微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
Chinese Classification:	G04    Basic standards and general methods
Professional Classification:	GB    National Standard
ICS Classification:	71.040.50 71.040.50    Physicochemical methods of analysis 71.040.50
Source Content Issued by:	AQSIQ;SAC
Issued on:	2013-7-19
Implemented on:	2014-3-1
Status:	valid
Superseding:	GB/T 18907-2002 Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	15000 words
Translation Price(USD):	450.0
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本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细微的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5μm。
当被分析试样区的直径小于0.5μm 时仍然可以参照本标准的分析方法,但是由于球差的影响,衍
射谱上的部分信息有可能来源于由选区光阑限定的区域之外,在这种情况下,如条件允许,最好采用微
(纳)衍射或者会聚束电子衍射方法。
选区电子衍射方法的成功应用取决于对所获得的衍射谱指数标定正确与否,而不论试样的哪个晶带轴平行于入射电子束,因而,这样的分析往往需要借助试样的倾转和旋转装置。
本标准适用于从晶体试样上获取SAED 谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。