Standard No.:	GB/T 17473.1-2008
English Name:	Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of solids content
Chinese Name:	微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
Chinese Classification:	H68    Precious metals and their alloys
Professional Classification:	GB    National Standard
ICS Classification:	77.120.99 77.120.99    Other non-ferrous metals and their alloys 77.120.99
Source Content Issued by:	AQSIQ; SAC
Issued on:	2008-3-31
Implemented on:	2008-9-1
Status:	to be superseded
Superseded by:	GB/T 17473-2025 Performance test method for electronic pastes— Conductor pastes test
Superseded on:	2026-5-1
Superseding:	GB/T 17473.1-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	2000 words
Translation Price(USD):	60.0
Delivery:	via email in 1~3 business day

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定》。
本部分与ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８相比，主要有如下变动：
———将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定；
———删除了引用文件ＧＢ／Ｔ２４２１—１９８９；
———本部分增加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容；
———对于聚合物低温固化浆料，根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含量的温度；
———浆料平行取样由两份增加为三份；
———删除了中温烧成浆料的内容，将高温烧成浆料改为烧结型浆料；
———试料相互之间测试值之差不大于平均值的１％测定结果有效。