Standard No.:	GB/T 43034.2-2024
English Name:	Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2: Synchronous transient injection method
Chinese Name:	集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法
Chinese Classification:	L56    Semiconductor integrated circuit
Professional Classification:	GB    National Standard
Source Content Issued by:	SAMR; SAC
Issued on:	2024-10-26
Implemented on:	2024-10-26
Status:	valid
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	14500 words
Translation Price(USD):	435.0
Delivery:	via email in 1~5 business day

本文件给出了评价集成电路（IC）对快速传导同步瞬态骚扰抗扰度试验方法的通用信息和定义。这些信息包括试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告的内容要求。
本文件的目的是描述通过建立相同的试验环境获得IC抗扰度的定量度量的通用条件，同时也描述了预期会影响试验结果的关键参数。与本文件的偏离需在试验报告中明确地注明。
本文件给出的同步瞬态抗扰度测量方法是使用具有不同幅值、持续时间和极性的，上升时间快速的短脉冲以传导的方式耦合给IC。在本方法中，施加的脉冲需与IC的功能运行同步，目的是确保可控的和可复现的条件。