Standard No.:	YS/T 679-2018
English Name:	Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors. Surface photovoltage method
Chinese Name:	非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
Professional Classification:	YS    Professional Standard - Non-ferrous Metal
Source Content Issued by:	Ministry of Industry and Information Technology
Issued on:	2018-10-22
Implemented on:	2019-4-1
Status:	valid
Superseding:	YS/T 679-2008 Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors by measurement of steady-steady-state surface photovoltage
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	13500 words
Translation Price(USD):	405.0
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本标准规定了非本征半导体材料中少数载流子扩散长度的测试方法，包含稳态光电压法、恒定光通量法和数字示波器记录法。
本标准适用于非本征半导体材料，如硅单晶片或相同导电类型重掺衬底上沉积的、已知电阻率的同质外延层中的少数载流子扩散长度的测试，测试样品（外延层）的厚度大于扩散长度的4倍。本标准可测试样品的电阻率和载流子寿命的极限尚未确定，但已对电阻率0.1Ω·cm～50Ω·cm、载流子寿命短至2ns的P型和N型硅样品进行了测试。本标准还可通过测试扩散长度后计算出硅中的铁含量。
本标准也可用于测试其他半导体材料，如砷化镓样品（需同时调整相应的光照波长（能量）范围和样品制备工艺）等的有效扩散长度，评价晶粒间界垂直于表面的多晶硅样品中的有效扩散长度，还可用于测试硅片洁净区宽度，以及太阳能电池和其他光学器件的有效扩散长度。